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TeraLED-LED光熱耦合量測系統

 

 

TeraLED® – Thermal and Radiometric Characterization of LEDs 是一套整合光與熱的可變溫量測系統，符合 JEDEC JESD51 系列及 CIE 127-2007 的量測規範。TeraLED量測硬體包含了完整的光學量測系統，能夠測定光度(photometric)以及光輻射特性(radiometric)。此外，也可結合T3Ster來擷取暫態溫度的變化過程並求得其熱特性。

TeraLED 之設計與開發就是為了因應世界各LED製造商大廠之需求，並提供給客戶獨一無二且完整的 LED 量測解決方案。TeraLED 同樣具有可擴充性，初期可透過TeraLED 系統來量測光輻射通量、流明值與色座標等。後續可擴充 T3Ster 系統來完成光熱耦合量測，得到 LED 元件在考慮發光效率下之真實熱特性，以及高精準度的結構函數曲線圖，進而分析 LED 元件封裝結構如固晶層或其他製程材料之分析。

 

TeraLEDView 是 TeraLED 量測系統的後處理軟體，它可將 TeraLED 量測之數據，繪製成各種規格書上常見的曲線圖型。如光學特性對應不同電流之函數圖，或光學對應不同溫度（不論是環溫或結面溫度）之特性圖。透過圖型表達的方式，快速呈現待測 LED 之產品特性。

 

TeraLED 的主要特色與應用範圍包括：

 

■ LED 待測元件之K因子校正

■ 熱穩態下之光度與光輻射特性量測

■ 量測不同溫度與電流下之光學特性

■ 光轉換效率之量測

■可獲得不同結面溫度下(junction temperature)之各種光學特性

 

 

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